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性能比

定义为最终产量与参考产量之比。它体现了温度效应、光学与电气损失,以及系统级(BOS)低效对相对于理想参考产量的输出能量的综合影响。请注意,该指标不包含背面辐照度;背面光的收集会通过提高 Eout 来提升 PR。 对双面系统,建议参见并使用双面性能比进行分析。

输出名称

性能比

符号

PR

单位

-

方程

Eout/P0HPOA,f/Gi,ref

SunSolve 使用视因子模型(非光线追踪)计算 PR 与 PRbifi 方程中的正面与背面阵面辐照量(HPOA,f 与 HPOA,r)。该模型包含行间遮挡造成的损失,但不包含其他光学损失;也不包含由于组件或支架间距导致的行间透射。取值为整个组件表面的平均值;若系统包含多块组件,则为所有组件的全局平均。

因此,SunSolve 的性能比计算在处理行间遮挡方面与 PVsyst 不同:

SunSolve 方法:

  • HPOA,f 包含行间遮挡的影响。
  • HPOA,r 包含行间遮挡的影响。

PVsyst 方法:

  • HPOA,f 使用 GlobInc,不包含行间遮挡。
  • HPOA,r 使用 GlobBack + BackShd,通过视因子模型包含行间遮挡。
  • 此混合方法详见其Performance Ratio (PR) 帮助页面

注意事项:

  • 在理想条件下(如无结构遮挡、无入射角损失 IAM),视因子求解的结果与光线追踪一致。
  • IEC 61724-1 将阵面辐照度定义为“直射、散射与地面反射辐照度之和”,并讨论通过传感器测量;其对是否包含行间遮挡并不明确。
  • 在 SunSolve 中,Eout 通过光线追踪得到,因此包含场景的细致遮挡损失。
  • 对双面系统,计算不含遮挡的背面辐照度既不实际也不合理;背面辐照度主要由地面反射与行间几何决定,行间遮挡是背面资源的固有组成。SunSolve 与 PVsyst 在 PRbifi 计算中均承认这一点。
  • 实际站点测量时,POA 传感器通常会因其在阵列中的位置而采集到一定程度的行间遮挡。